¿Cómo la química cambió el mundo?

33. Nanotecnologías: ciencia en la escala nanométrica

Otro instrumento es el microscopio de fuerza atómica (AFM), que no se basa en la corriente eléctrica, sino en la medición de la interacción — atractiva y/o repulsiva— entre una punta nanomé trica y la superficie de la muestra (fuerzas de van der Waals, electrostáticas o capilares). Estas fuer zas provocan la deflexión del brazo en voladizo ( cantiléver o micropalanca ), que se detecta óp ticamente —típicamente con láser y fotodiodo— para reconstruir la topografía, sin requerir con ductividad ni vacío, por lo que es especialmente útil en materiales no conductores (Binnig, Quate, & Gerber, 1986; Hansma, Elings, Marti, & Bracker, 1988). Cabe señalar que el microscopio electró nico de transmisión TEM también puede obser var materiales aislantes, siempre que la muestra sea ultradelgada y se controle la carga; la ventaja del AFM es que trabaja directamente en aire o en líquido sobre la superficie y entrega mapas 3D con información local (rugosidad, adhesión, mó

dulo, etc.). Poco después de la primera de mostración del AFM (Binnig, Quate & Gerber, 1986), Hansma y colaboradores aplicaron esta técnica al estudio de materiales biológicos (Hans ma, Elings, Marti, & Bracker, 1988). Figura 33.7. Microscopio de fuerza atómica (Nanoscope IIIa, Veeco/ Digital Instruments)[Fotografía]. Crédito: Limojoe, 2006. Licencia: Do minio público (liberada por el autor). Fuente: Wikimedia Commons. Archivo: AFM_Nanoscope_IIIa.jpg. Recuperado el 3 de octubre de 2025, de http://commons.wikimedia.org/wiki/File:AFM_Nanoscope_IIIa.jpg